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傳感器電路設(shè)計之抗干擾技術(shù)
更新時間:2015-06-17   點(diǎn)擊次數(shù):4873次

 傳感器電路通常用來測量微弱的信號,具有很高的靈敏度,但也很容易接收到外界或內(nèi)部一些無規(guī)則的噪聲或干擾信號,如果這些噪聲和干擾的大小可以與有用信號相比較,那么在傳感器電路的輸出端有用信號將有可能被淹沒,或由于有用信號分量和噪聲干擾分量難以分辨,則必將妨礙對有用信號的測量。所以在傳感器電路的設(shè)計中,往往抗干擾設(shè)計是傳感器電路設(shè)計是否成功的關(guān)鍵。

  高頻熱噪聲是由于導(dǎo)電體內(nèi)部電子的無規(guī)則運(yùn)動產(chǎn)生的。溫度越高,電子運(yùn)動就越激烈。導(dǎo)體內(nèi)部電子的無規(guī)則運(yùn)動會在其內(nèi)部形成很多微小的電流波動,因其是無序運(yùn)動,故它的平均總電流為零,但當(dāng)它作為一個元件(或作為電路的一部分)被接入放大電路后,其內(nèi)部的電流就會被放大成為噪聲源,特別是對工作在高頻頻段內(nèi)的電路高頻熱噪聲影響尤甚。

  低頻噪聲主要是由于內(nèi)部的導(dǎo)電微粒不連續(xù)造成的。特別是碳膜電阻,其碳質(zhì)材料內(nèi)部存在許多微小顆粒,顆粒之間是不連續(xù)的,在電流流過時,會使電阻的導(dǎo)電率發(fā)生變化引起電流的變化,產(chǎn)生類似接觸不良的閃爆電弧。另外,晶體管也可能產(chǎn)生相似的爆裂噪聲和閃爍噪聲,其產(chǎn)生機(jī)理與電阻中微粒的不連續(xù)性相近,也與晶體管的摻雜程度有關(guān)。

  由于半導(dǎo)體PN結(jié)兩端勢壘區(qū)電壓的變化引起累積在此區(qū)域的電荷數(shù)量改變,從而顯現(xiàn)出電容效應(yīng)。當(dāng)外加正向電壓升高時,N區(qū)的電子和P區(qū)的空穴向耗盡區(qū)運(yùn)動,相當(dāng)于對電容充電。當(dāng)正向電壓減小時,它又使電子和空穴遠(yuǎn)離耗盡區(qū),相當(dāng)于電容放電。當(dāng)外加反向電壓時,耗盡區(qū)的變化相反。當(dāng)電流流經(jīng)勢壘區(qū)時,這種變化會引起流過勢壘區(qū)的電流產(chǎn)生微小波動,從而產(chǎn)生電流噪聲。其產(chǎn)生噪聲的大小與溫度、頻帶寬度△f成正比。電路板上的電磁元件的干擾。

  電阻的干擾來自于電阻中的電感、電容效應(yīng)和電阻本身的熱噪聲。例如一個阻值為R的實(shí)芯電阻,可等效為電阻R、寄生電容C、寄生電感L的串并聯(lián)。一般來說,寄生電容為0.1~0.5pF,寄生電感為5~8nH。在頻率高于1MHz時,這些寄生電感電容就不可忽視了。

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